AMD啟用最新測(cè)試系統(tǒng) 65nm處理器臨近
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        Keithley Instruments公司日前表示,AMD將在其Fab 36 12英寸晶圓廠啟用參量測(cè)試系統(tǒng)S6800 DC/RF。
據(jù)悉,S6800 DC/RF系統(tǒng)將可用于測(cè)試80nm和65nm芯片制造工藝。未來(lái),S6800 DC/RF系統(tǒng)還可被用于測(cè)試45nm芯片制造工藝。從AMD采用Keithley Instruments的測(cè)試系統(tǒng)來(lái)看,其已開(kāi)始為65nm工藝摩拳擦掌了。
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